Курсовая работа на тему: Программно-аппаратный комплекс для тестирования интегральных микросхем серии

Введение

В настоящее время, производство радиоэлектронных компонентов и микросхем очень распространено. Однако при их производстве возникает вопрос работоспособности изготовленного элемента. Так как качество получаемого элемента зависит от внутренней структуры материала, в которой могут быть дефекты. В данном случае элемент окажется неработоспособным. Поэтому необходимо после изготовления проводить испытания, по результатам которых делать выводы о работоспособности элемента. Устройства, проводящие проверку правильности функционирования, называют тестерами. При проверке работоспособности интегральных микросхем целесообразно использовать универсальные тестеры, способные тестировать несколько типов микросхем. Задачей данного курсового проекта является разработка программно-аппаратного комплекса для тестирования интегральных микросхем 155 серии.

Оглавление

- Введение

- Техническое задание

- Инженерная интерпретация задачи

- Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работы контроллера

- Разработка интерфейса программно-аппаратного комплекса

- написание подпрограммы тестирования интегральной микросхемы К155ЛА1

- Выбор расчет элементов схемы Заключение

- Список литературы

Список литературы

1. Однокристальные микроЭВМ. - М.: МИКАП, 1994. - 400 с.: ил.

2. Сташин В.В. и др. Проектирование цифровых устройств на однокристальных микроконтроллерах. /В.В. Сташин, А.В. Урусов, О.Ф. Мологонцева. - М.: Энергоатомиздат, 1990. - 224 с.

3. Справочник по интегральным микросхемам. / Б.В. Тарабрин, С.В. Якубовский, Н.А. Барканов и др.; Под ред. Б.В. Тарабна. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Энергия, 1980. - 816 с., ил.

4. Аванесян Г.Р., Левшин В.П. Интегральные микросхемы ТТЛ, ТТЛШ/ - М.: Машиностроение, 1993. - 252 с.

5. Основы микропроцессорной техники. /Курс лекций. Кудинов А.К. - Тольятти: 2004.